- 時(shí)代里氏硬度計(jì)
- 時(shí)代維氏硬度計(jì)
- 時(shí)代洛氏硬度計(jì)
- 時(shí)代布氏硬度計(jì)
- 時(shí)代粗糙度儀
- 時(shí)代涂層測(cè)厚儀
- 電解鍍層測(cè)厚儀
- 時(shí)代超聲波測(cè)厚儀
- 鐵素體檢測(cè)儀
- 便攜式輻射檢測(cè)儀
- 時(shí)代超聲波探傷儀
- 時(shí)代測(cè)振儀
- 時(shí)代便攜式硬度計(jì)
- 時(shí)代超聲波硬度計(jì)
- 時(shí)代邵氏硬度計(jì)
- 時(shí)代紅外測(cè)溫儀
- 時(shí)代測(cè)量裝置
- 時(shí)代人造板試驗(yàn)機(jī)
- 時(shí)代電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
- 時(shí)代磁粉探傷儀
- 時(shí)代彈簧試驗(yàn)機(jī)
- 時(shí)代沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 時(shí)代萬(wàn)能硬度計(jì)
- 韋氏硬度計(jì)
- 氣體檢測(cè)儀
- 電火花檢漏儀
- 便攜式色差儀
- 便攜式光澤度儀
- 德國(guó)喜利得激光測(cè)距儀
- 時(shí)代相關(guān)儀器產(chǎn)品
- 超聲波測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 測(cè)振儀
- 紅外測(cè)溫儀
- 磁粉探傷機(jī)
- X光射線探傷機(jī)
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 試驗(yàn)機(jī)
- 埋地管線探測(cè)儀
- 彈簧試驗(yàn)機(jī)
- 里氏硬度計(jì)
- 邵氏硬度計(jì)
- 洛氏硬度計(jì)
- 布氏硬度計(jì)
- 維氏硬度計(jì)
- 粗糙度儀
- 超聲波探傷儀
新聞詳情
鍍層測(cè)厚儀的原理與測(cè)量方法
日期：2026-01-01 19:16
瀏覽次數(shù)：736
摘要：
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的**次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
