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新聞詳情
鍍層測厚儀的基本原理
日期：2026-01-01 19:14
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摘要：
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的**次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因 為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
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